熒(ying)光(guang)光(guang)譜儀(yi)能(neng)分(fen)析(xi)哪(na)些元素(su)

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　　熒(ying)光(guang)光(guang)譜儀(yi)是較(jiao)新(xin)型X射(she)線熒(ying)光(guang)光(guang)譜儀(yi)，具有(you)重(zhong)現性(xing)好，測(ce)量(liang)速度(du)快(kuai)，靈敏(min)度(du)高(gao)的特(te)點。能(neng)分(fen)析(xi)F(9)～U(92)之(zhi)間所有元(yuan)素(su)。樣品(pin)可以是固體、粉末、熔(rong)融片，液(ye)體等(deng)，分(fen)析對(dui)象適(shi)用於煉鋼、有(you)色(se)金屬、水泥(ni)、陶(tao)瓷、石(shi)油(you)、玻(bo)璃等行(xing)業樣品(pin)。無標(biao)半(ban)定(ding)量(liang)方法(fa)可以對(dui)各種(zhong)形狀(zhuang)樣品(pin)定(ding)性(xing)分析(xi)，並(bing)能(neng)給(gei)出(chu)半(ban)定(ding)量(liang)結(jie)果(guo)，結(jie)果(guo)度(du)對(dui)某些樣品(pin)可以接近(jin)定(ding)量(liang)水平，分(fen)析(xi)時間短。薄膜分析(xi)軟(ruan)件FP-MULT1能(neng)作鍍層(ceng)分析(xi)，薄膜分析(xi)。熒(ying)光(guang)光(guang)譜儀(yi)測量(liang)樣品(pin)的大(da)尺(chi)寸(cun)要求為直(zhi)徑51mm,高(gao)40mm.

　　熒(ying)光(guang)光(guang)譜儀(yi)分析(xi)方法(fa)是壹(yi)個(ge)相對(dui)分析(xi)方法(fa)，任何制樣過(guo)程和步(bu)驟(zhou)必(bi)須(xu)有(you)非(fei)常好的(de)重(zhong)復(fu)操(cao)作可能(neng)性(xing)，所以用於制作標準(zhun)曲線的標準樣品(pin)和分(fen)析(xi)樣品(pin)必(bi)須(xu)經過(guo)同樣的制(zhi)樣處理(li)過(guo)程。熒(ying)光(guang)光(guang)譜儀(yi)實(shi)際(ji)上(shang)又(you)是壹(yi)個(ge)表面分析(xi)方法(fa)，激發(fa)只發(fa)生(sheng)在試(shi)樣的淺表(biao)面，必(bi)須(xu)註(zhu)意(yi)分(fen)析(xi)面相對(dui)於整個(ge)樣品(pin)是否(fou)有(you)代表(biao)性(xing)。此外(wai)，樣品(pin)的平(ping)均粒(li)度(du)和(he)粒度(du)分(fen)布是否(fou)有(you)變(bian)化，樣品(pin)中是否(fou)存在不均勻(yun)的(de)多孔狀(zhuang)態等(deng)。樣品(pin)制備(bei)過(guo)程由於經過(guo)多步驟(zhou)操(cao)作，還(hai)必(bi)須(xu)防(fang)止(zhi)樣品(pin)的損失(shi)和沾汙(wu)。

　　不同元(yuan)素(su)的(de)熒(ying)光(guang)x射(she)線具有各自(zi)的特(te)定(ding)波長(chang)或能(neng)量(liang)，因此根(gen)據熒(ying)光(guang)x射(she)線的波長(chang)或能(neng)量(liang)可以確定(ding)元素(su)的(de)組成。如果(guo)是波長(chang)色(se)散(san)型光(guang)譜儀(yi)，對(dui)於壹(yi)定(ding)晶面間距的晶體，由(you)檢(jian)測器(qi)轉(zhuan)動(dong)的(de)2e角可以求(qiu)出(chu)x射(she)線的波長(chang)入，從(cong)而確定(ding)元素(su)成份。對(dui)於能(neng)量(liang)色散型光(guang)譜儀(yi)，可以由(you)通道來判別(bie)能(neng)量(liang)，從而確定(ding)是何種元(yuan)素(su)及(ji)成份。但是如果(guo)元素(su)含量(liang)過(guo)低(di)或存在元(yuan)素(su)間的譜線幹(gan)擾(rao)時，仍(reng)需(xu)人工鑒(jian)別(bie)。首先識別(bie)出x光(guang)管靶(ba)材(cai)的特(te)征x射(she)線和強(qiang)峰(feng)的(de)伴(ban)隨線，然後(hou)根據能(neng)量(liang)標註剩(sheng)余譜線。在分析未知(zhi)譜線時，要同時(shi)考慮到樣品(pin)的來(lai)源(yuan)、性(xing)質(zhi)等元(yuan)素(su)，以便綜合判斷。

上(shang)壹(yi)篇(pian)：便攜(xie)式(shi)太(tai)陽光(guang)譜反射(she)儀(yi)可用於太陽反射(she)比(bi)和(he)色(se)度(du)學(xue)測量(liang)
下(xia)壹(yi)篇(pian)：全(quan)自(zi)動太(tai)陽分光(guang)輻射(she)儀(yi)用於測量(liang)太陽輻照度(du)