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微(wei)型(xing)光譜儀(yi)的(de)日常(chang)維護都(dou)需(xu)要(yao)做(zuo)什麽(me)呢(ne)
微(wei)型(xing)光譜儀(yi)采(cai)用(yong)壹種的(de)成像技(ji)術，通(tong)過(guo)光柵(zha)推(tui)掃(sao)方式(shi)實現圖像(xiang)與(yu)光譜的(de)合二為(wei)壹，改變(bian)了(le)傳(chuan)統光譜儀(yi)或(huo)相(xiang)機(ji)獲(huo)取數據單(dan)壹的(de)缺(que)點(dian)，為(wei)用戶(hu)提供(gong)了(le)壹種的(de)分析手段，這(zhe)種技(ji)術可以廣泛應(ying)用(yong)在(zai)天(tian)文(wen)、遙感、農(nong)業、考古(gu)、生(sheng)物(wu)醫學(xue)、顏(yan)色(se)科(ke)學(xue)、材(cai)料物(wu)理(li)及化(hua)學(xue)等多(duo)種科(ke)研(yan)領(ling)域(yu)。微(wei)型(xing)光譜儀(yi)是壹款全(quan)自動熒(ying)光光譜儀(yi)，它(ta)采(cai)用(yong)光子計(ji)數技(ji)術，靈敏(min)度(du)，也(ye)可(ke)用於磷(lin)光壽命的(de)測量，可(ke)升級(ji)進(jin)行熒(ying)光壽命測量。
微型(xing)光譜儀(yi)主(zhu)要(yao)適(shi)用(yong)於科(ke)研(yan)院(yuan)所(suo)、高(gao)等院(yuan)校(xiao)物(wu)理(li)和(he)化(hua)學(xue)實(shi)驗(yan)室、生物(wu)及醫學(xue)領(ling)域(yu)等光學(xue)方(fang)面，研究(jiu)物質成(cheng)分的(de)判定(ding)與確(que)認(ren)；還(hai)可(ke)以應(ying)用(yong)於刑(xing)偵(zhen)及珠(zhu)寶行業進(jin)行的(de)檢(jian)測及(ji)寶(bao)石的(de)鑒定(ding)。微型(xing)光譜儀(yi)以其結(jie)構(gou)簡(jian)單(dan)、操(cao)作(zuo)簡(jian)便、測(ce)量(liang)快速，以低波(bo)數測量能力(li)著稱(cheng)；采用(yong)共焦(jiao)光路(lu)設計(ji)以獲(huo)得更高(gao)分辨(bian)率(lv)，可(ke)對(dui)樣(yang)品(pin)表面進(jin)行um級(ji)的(de)微區(qu)檢(jian)測，也(ye)可(ke)用(yong)此進(jin)行顯(xian)微(wei)影像測(ce)量。
微型(xing)光譜儀(yi)日(ri)常(chang)維護
1、電極(ji)的(de)維護
用(yong)電極(ji)刷對(dui)電極(ji)旋(xuan)轉(zhuan)清(qing)理(li)。當(dang)使(shi)用頻(pin)繁(fan)導(dao)致電極(ji)尖(jian)鈍(dun)了(le)，需(xu)要(yao)換(huan)電極(ji)頭。註意(yi)用規調(tiao)整(zheng)好(hao)電極(ji)的(de)位(wei)置和(he)高(gao)度(du)。每(mei)次(ci)激發後要(yao)刷電極(ji)。
2、清(qing)洗(xi)聚(ju)光鏡
用(yong)脫(tuo)脂棉(mian)沾(zhan)上(shang)無水乙醇輕(qing)輕(qing)擦(ca)拭透(tou)鏡。如果(guo)透(tou)鏡有(you)付著物，用(yong)丙酮或無水乙醇浸(jin)泡(pao)15分鐘，而後在擦(ca)拭。用洗(xi)耳(er)球吹幹(gan)。註意(yi)不(bu)要(yao)劃(hua)傷。光強降(jiang)低時(shi)，好(hao)每(mei)月壹次。
3、校(xiao)正(zheng)入射(she)狹縫位(wei)置-光路(lu)校(xiao)正(zheng)（描(miao)跡）
從(cong)原(yuan)始(shi)位(wei)置旋(xuan)轉(zhuan)轂輪，左轉(zhuan)200格(ge)，右(you)轉200格(ge)，每(mei)30～50格(ge)激(ji)發測定(ding)光強值。要(yao)求激發的(de)樣(yang)品(pin)為基體(ti)的(de)高(gao)含量(liang)。如鐵(tie)基，就(jiu)用(yong)純銅鐵(tie)作(zuo)激發樣(yang)品(pin)，進(jin)行描(miao)跡。微(wei)型(xing)光譜儀(yi)的(de)光路(lu)校(xiao)正(zheng)，每月描(miao)跡壹次。在(zai)微型(xing)光譜儀(yi)中是不(bu)需要(yao)描(miao)跡的(de)。因為(wei)全譜型(xing)光譜儀(yi)能(neng)夠接受全(quan)譜(pu)的(de)譜圖，那(na)麽就(jiu)可(ke)以從(cong)軟件上(shang)來(lai)校(xiao)正(zheng)環(huan)境(jing)因素(su)對(dui)光路(lu)的(de)影響(xiang)，了(le)光路(lu)的(de)固定(ding)。