便(bian)攜式(shi)光(guang)譜(pu)儀購(gou)買時(shi)需註意(yi)哪(na)些問(wen)題(ti)？

　　便(bian)攜式(shi)光(guang)譜(pu)儀是(shi)壹(yi)種(zhong)基於(yu)XRF光(guang)譜(pu)分(fen)析技(ji)術(shu)的(de)光(guang)譜(pu)分(fen)析儀器(qi)，當能量高(gao)於(yu)原子(zi)內層(ceng)電(dian)子(zi)結合能的(de)高(gao)能X射線與原(yuan)子(zi)發(fa)生碰(peng)撞(zhuang)時(shi)，驅(qu)逐壹(yi)個內(nei)層電(dian)子(zi)從而(er)出(chu)現(xian)壹(yi)個空(kong)穴，使整個(ge)原(yuan)子(zi)體(ti)系(xi)處於(yu)不(bu)穩(wen)定的(de)狀(zhuang)態，當(dang)較(jiao)外層(ceng)的(de)電(dian)子(zi)躍遷(qian)到(dao)空(kong)穴時(shi)，產生壹(yi)次光(guang)電(dian)子(zi)，擊出(chu)的(de)光(guang)子(zi)可能再(zai)次(ci)被吸(xi)收(shou)而(er)逐出(chu)較(jiao)外層(ceng)的(de)另壹(yi)個次(ci)級(ji)光(guang)電(dian)子(zi)，發(fa)生俄歇效應，亦稱次級(ji)光(guang)電(dian)效應或無(wu)輻(fu)射效應。所(suo)逐出(chu)的(de)次級(ji)光(guang)電(dian)子(zi)稱為(wei)俄歇電(dian)子(zi)。當較(jiao)外層(ceng)的(de)電(dian)子(zi)躍入(ru)內層空穴所(suo)釋放(fang)的(de)能量不(bu)被(bei)原(yuan)子(zi)內吸(xi)收(shou)，而(er)是(shi)以光(guang)子(zi)形(xing)式(shi)放(fang)出(chu)，便(bian)產生X射線熒光(guang)，其(qi)能量等於兩(liang)能級(ji)之間的(de)能量差。因(yin)此，射線熒光(guang)的(de)能量或波長是(shi)特征性(xing)的(de)，與元素有壹(yi)壹(yi)對應的(de)關(guan)系(xi)。
 

　　便(bian)攜式(shi)光(guang)譜(pu)儀是(shi)壹(yi)種(zhong)常用的(de)分析儀器(qi)，可對片狀(zhuang)、塊(kuai)狀(zhuang)以及(ji)棒(bang)狀(zhuang)的(de)固體(ti)樣(yang)品中(zhong)的(de)非金屬(shu)元素(C、P、S、B等)以及(ji)金(jin)屬(shu)元素進(jin)行準確(que)定量分析。廣(guang)泛(fan)應用於(yu)冶(ye)金(jin)、鑄(zhu)造、機(ji)械(xie)、金(jin)屬(shu)加工、汽車制(zhi)造、有色(se)、航(hang)空航(hang)天、兵器(qi)、化(hua)工等領域的(de)生產(chan)過程控制(zhi)，中(zhong)心實(shi)驗室成品檢(jian)驗等，可用於(yu)Fe、Al、Cu、Ni、Co、Mg、Ti、Zn、Pb等多(duo)種(zhong)金屬及(ji)其(qi)合金樣(yang)品分(fen)析。可(ke)對片狀(zhuang)、塊(kuai)狀(zhuang)以及(ji)棒(bang)狀(zhuang)的(de)固體(ti)樣(yang)品中(zhong)的(de)非金屬(shu)元素(C、P、S、B等)以及(ji)金(jin)屬(shu)元素進(jin)行準確(que)定量分析。那(na)麽，便(bian)攜式(shi)光(guang)譜(pu)儀購(gou)買時(shi)需註意(yi)哪(na)些問(wen)題(ti)？
 

　　1、穩(wen)定性(xing)：分(fen)析儀器(qi)zui重要(yao)的(de)就是(shi)穩(wen)定性(xing)，ICP在每(mei)次(ci)分(fen)析前都(dou)要(yao)進(jin)標樣，所(suo)以檢(jian)測結果(guo)壹(yi)般與真(zhen)值偏差都(dou)不(bu)打(da)，關(guan)鍵是(shi)同類樣(yang)品是(shi)否在每(mei)次(ci)分(fen)析出(chu)來(lai)之後(hou)結果是(shi)否壹(yi)致(zhi)，如果(guo)忽高(gao)忽低(di)妳知(zhi)道(dao)那(na)個樣(yang)品是(shi)合格的(de)。
 

　　2、分析速(su)度(du)：如果(guo)是(shi)全(quan)譜(pu)的(de)機器，壹(yi)般72個(ge)元素/分鐘，如果(guo)是(shi)掃描型(xing)的(de)，速(su)度(du)要(yao)慢(man)。現(xian)在除(chu)了壹(yi)些特(te)殊(shu)行(xing)業(ye)還(hai)在用掃(sao)描型的(de)，其(qi)他的(de)都(dou)是(shi)全(quan)譜(pu)了(le)。不(bu)是(shi)說掃描(miao)型(xing)不(bu)好(hao)，只是(shi)技術比(bi)較(jiao)陳(chen)舊，容易被淘(tao)汰。
 

　　3、波長範圍：是(shi)否能覆(fu)蓋(gai)妳所(suo)要(yao)檢(jian)測所(suo)有元素的(de)譜(pu)線範圍。
 

　　4、光(guang)學(xue)分(fen)辨(bian)率(lv)：理論(lun)上(shang)來(lai)說分(fen)辨(bian)率(lv)越高(gao)越(yue)好，當然還(hai)看(kan)妳的(de)樣品情(qing)況。
 

　　5、故(gu)障率(lv)：這個不(bu)用多(duo)說，故(gu)障率(lv)自然越低(di)越好(hao)。