便(bian)攜(xie)式光譜儀(yi)使用前(qian)的(de)準備工(gong)作(zuo)有哪(na)些(xie)呢
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便(bian)攜(xie)式光譜儀(yi)分(fen)析(xi)是利(li)用物(wu)質(zhi)對不(bu)同波(bo)長的紅外(wai)輻(fu)射的吸收特(te)性(xing),進行壹(yi)系列精密分(fen)析(xi)的儀(yi)器。各(ge)項(xiang)性(xing)能長期穩(wen)定(ding),保(bao)證數據具(ju)有良(liang)好再現(xian)性(xing);功(gong)能齊(qi)全的(de)化(hua)學(xue)計(ji)量學(xue)軟件(jian);很好的支持(chi)建立模型和(he)分(fen)析(xi);準確並(bing)適(shi)用範(fan)圍(wei)足夠寬(kuan)的模型(xing)。
便(bian)攜(xie)式光譜儀(yi)分(fen)析(xi)就是通(tong)過(guo)對導(dao)電(dian)樣(yang)品施加(jia)能量而激(ji)發(fa)元素的(de)外(wai)層(ceng)電(dian)子,電(dian)子躍(yue)遷產生(sheng)元(yuan)素固有的(de)特(te)征光譜,利(li)用特(te)征光譜進行定(ding)性(xing)、定(ding)量的分(fen)析(xi)儀器。分(fen)析(xi)定(ding)量範圍(wei)廣、準確性(xing)及(ji)穩(wen)定(ding)性(xing)高等特(te)點(dian)設(she)備(bei)定(ding)量分(fen)析(xi)範圍(wei)可(ke)從(cong)ppm—幾(ji)十(shi)%,非(fei)常(chang)適(shi)於微(wei)量、痕量分(fen)析(xi)。當(dang)元素含(han)量在0.1-1%或(huo)更低時,光電(dian)直(zhi)讀(du)光譜分(fen)析(xi)法(fa)其準確度更優(you)於化學(xue)分(fen)析(xi)。另外(wai),不(bu)存(cun)在人為誤差,穩(wen)定(ding)性(xing)方面得到很大(da)提高。
便(bian)攜(xie)式光譜儀(yi)的正(zheng)常(chang)運(yun)行(xing)主要是利(li)用不(bu)同化(hua)合物(wu)對紅外(wai)光吸收率(lv)不(bu)同的(de)物理原(yuan)理,為人們分(fen)析(xi)物質(zhi)結(jie)構(gou)和(he)組(zu)成(cheng)提供(gong)了全新的(de)方法(fa),分(fen)析(xi)的結(jie)果(guo)也(ye)更(geng)加準確。為(wei)了(le)保證使(shi)用效(xiao)果(guo),任何壹(yi)個使(shi)用環節都(dou)不可(ke)忽視,尤(you)其是使(shi)用前(qian)的(de)準備工(gong)作(zuo),下面我(wo)們來(lai)仔細(xi)說說。
1、規(gui)劃(hua)儀器現(xian)場(chang)
實用的(de)尺寸可(ke)供(gong)選擇。雖然功(gong)能齊(qi)全,幾(ji)乎(hu)可(ke)以(yi)滿(man)足各(ge)種(zhong)光譜分(fen)析(xi),但(dan)是大(da)尺寸會(hui)占(zhan)據(ju)相當(dang)大(da)的(de)面積,因(yin)此壹(yi)般實驗(yan)室(shi)無(wu)法(fa)提供(gong)足夠的(de)儀器空(kong)間(jian)。小體積的小到可(ke)以(yi)攜(xie)帶(dai),但(dan)性(xing)能與大(da)體(ti)積的性(xing)能有很(hen)大(da)不(bu)同。因(yin)此,在購買大(da)容(rong)量之前(qian),請(qing)妥(tuo)善規(gui)劃(hua)儀(yi)器現(xian)場(chang),以防止光譜儀(yi)發揮其大(da)功(gong)能。
2、培(pei)訓人員
不同(tong)類型和(he)規(gui)格(ge)的以不同(tong)的(de)方式使(shi)用,因(yin)此在光譜儀(yi)投入(ru)使(shi)用之(zhi)前(qian)應(ying)對系(xi)統(tong)的(de)人員進行系(xi)統(tong)的(de)訓(xun)練(lian)和(he)指(zhi)導(dao)。為了使工(gong)作(zuo)人員更加(jia)註(zhu)重使(shi)用,建議(yi)將儀器培(pei)訓內容(rong)納(na)入員工評(ping)估計(ji)劃,以(yi)避免因(yin)技術操(cao)作(zuo)不(bu)當(dang)而損(sun)壞(huai)近紅外(wai)光譜儀(yi)。
3、測試儀表(biao)現(xian)
來(lai)自同壹(yi)制造商(shang)的(de)不(bu)同批次的(de)性(xing)能也(ye)不(bu)同,因(yin)為上(shang)遊(you)公司(si)生(sheng)產的(de)部件(jian)的(de)耐(nai)磨(mo)性(xing)將影響(xiang)終(zhong)的(de)光譜儀(yi)。因(yin)此,在使用質(zhi)量可(ke)靠的(de)之前(qian),有必(bi)要測試光譜儀(yi)的性(xing)能是否滿(man)足實驗(yan)和(he)工(gong)作(zuo)要求(qiu)。總之(zhi),在使用之(zhi)前(qian),有必(bi)要正確規劃(hua)儀(yi)器現(xian)場(chang)、培訓人員和(he)測試儀器的(de)性(xing)能。當(dang)然,制(zhi)備(bei)不(bu)僅包(bao)括(kuo)這(zhe)些(xie),而且(qie)還詳細(xi)的(de)除塵和(he)保(bao)護(hu)光譜儀(yi)。因(yin)此,用戶(hu)應(ying)該更(geng)加註(zhu)意(yi)準備和(he)操(cao)作(zuo)細(xi)節(jie),以(yi)便(bian)熟(shu)練(lian)使用光譜儀(yi)。